Nakamura T., Kiss T., Izumi T., Shiohara Y., Kato T., Sakai N., Koizumi T., Taneda T., Ibi A., Nakaoka K., Yoshizumi M., Kimura K., Yoshida T., Takagi Y., Katayama T.M.
Ключевые слова: power equipment, cables, transformers, SMES, HTS, GdBCO, EuBCO, thickness dependence, critical caracteristics, critical current, laminations, ac losses, current distribution, long conductors, review
Iijima Y., Kiss T., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Takahashi T., Kato T., Hirayama T., Taneda T., Yoshida R., Kuriki R., Yoshizumi M., Shinozaki T.
Nakamura T., Higashikawa K., Kiss T., Izumi T., Shiohara Y., Hasegawa T., Inoue M., Takahashi Y., Kato T., Koizumi T., Yoshizumi M., Kimura K., Nakanishi T., Hironaga R.
Higashikawa K., Kiss T., Izumi T., Shiohara Y., Yamada Y., Taneda T., Miyata S., Okumura K., Chikumoto N., Yamamoto A., Ibi A., Yoshizumi M., Tanabe K.
Kiss T., Teranishi R., Izumi T., Watanabe T., Yoshizumi M., Yamada K., Kaneko K., Maebatake T., Kamata T.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, REBCO, joint resistances, interfaces, experimental results
Higashikawa K., Awaji S., Watanabe K., Kiss T., Izumi T., M., T., Yoshizumi M., Y., K., Inoue, Yamaguchi, Sakakibara, Imamura, TobitaH.
Kiss T., Teranishi R., Izumi T., Yoshizumi M., Yamada K., Kaneko K., Konya K., Ootaguro K., Nishiyama T.
Higashikawa K., Kiss T., Izumi T., Shiohara Y., Inoue M., Kato T., Hirayama T., Yoshizumi M., Tobita H., Notoh K.
Higashikawa K., Lee S., Kiss T., Izumi T., Inoue M., Okamoto H., Chikumoto N., Machi T., Tanabe K., Shiohara K.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, fabrication, TFA-MOD process, critical caracteristics, critical current density, distribution, homogeneity
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, doping effect, TFA-MOD process, growth rate, substrate Hastelloy, fabrication, microstructure
Iijima Y., Higashikawa K., Kiss T., Saitoh T., Izumi T., Inoue M., Imamura K., Okamoto H., Okumura K., Machi T., Yoshizumi M., Shiohara K., Komaki Y.
Iijima Y., Kiss T., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Takahashi T., Kato T., Hirayama T., Taneda T., Yoshida R., Kuriki R., Yoshizumi M., Shinozaki T.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, buffer layers, films epitaxial, IBAD process, YBCO, fabrication
Iijima Y., Higashikawa K., Awaji S., Watanabe K., Kiss T., Saitoh T., Izumi T., Inoue M., Fuger R., Namba M.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.